Máy phân loại tế bào Polymer NECSTP-A06 áp dụng cho các tế bào Polymer dài 90 đến 130mm và rộng 90 đến 140mm.
Để đáp ứng các yêu cầu quy trình khác nhau, máy phân loại sử dụng cấu trúc mô-đun cho người dùng lựa chọn.
1. Máy phân loại tế bào Nebula Polymer áp dụng sơ đồ kiểm tra bàn quay sáng tạo và đảm bảo thử nghiệm không bị gián đoạn bằng cách thay đổi luân phiên các thiết bị thử nghiệm, do đó nâng cao đáng kể khả năng phân loại tế bào Polymer.
2. Các tế bào được nạp và tự động thu thập bằng dây đai đồng bộ, do đó giảm tải công việc của người vận hành một cách hiệu quả và giảm các khuyết tật và hư hỏng sản phẩm do vận hành sai hoạt động.
3. Bộ điều khiển điện áp dụng thiết kế mô-đun, có tính tích hợp cao, tính phổ quát tốt và bảo trì dễ dàng.
4. Cơ chế truyền động thông qua điều khiển động cơ servo để đảm bảo hoạt động ổn định và độ chính xác cao.
5. Trạm thử nghiệm được trang bị máy quét tốc độ cao hỗ trợ tải lên và kiểm tra dữ liệu thử nghiệm, đảm bảo truy xuất nguồn gốc sản xuất.
Thông số thiết bị:
1. Độ phân giải điện áp: 0,1mV
2. Phạm vi đo điện áp: 20V
3. Độ chính xác: ±0,01% rdg. ±3dgt
4. Độ phân giải điện trở: 0,1mΩ
5. Phạm vi đo điện trở: 3Ω &30 mΩ
6. Độ chính xác: ±0,5% rdg. ±5dgt
7. Hiệu quả kiểm tra: 1300 chiếc / giờ
Cấu tạo của MBS-JZ10T là kết cấu tích hợp với khóa chống cháy nổ gắn trên cửa + xích chống cháy nổ
Hệ thống kiểm tra tích hợp EOL của bộ pin lithium EV được thiết kế cho các cụm pin lithium-ion công suất cao và nhằm mục đích kiểm tra và xác minh các lỗi có thể xảy ra và các vấn đề an toàn xảy ra trong quá trình lắp ráp bộ pin, để đảm bảo các sản phẩm an toàn và đáng tin cậy được giao cho khách hàng.
Hệ thống thử nghiệm có thể giao tiếp với MES phía máy khách (hệ thống truy xuất nguồn gốc quy trình sản xuất), từ đó xác định xem thử nghiệm có thể được bắt đầu hay không bằng cách kiểm tra kết quả thử nghiệm của trạm cuối cùng trong MES so với mã vạch hệ thống bộ pin (thử nghiệm có thể không được bắt đầu tại trạm này nếu không cần kiểm tra) và lưu trữ kết quả thử nghiệm trên MES và hệ thống cục bộ.
Bộ pin điện tinh vân system.pdf thử nghiệm EOL
Cấu tạo của máy kiểm tra đạn pin Kết cấu tích hợp với khóa chống cháy nổ gắn trên cửa + xích chống cháy nổ
Hệ thống kiểm tra mô phỏng điều kiện làm việc của bộ pin nguồn
Hệ thống kiểm tra mô phỏng điều kiện làm việc của bộ pin điện Nebula được thiết kế đặc biệt cho các phương tiện năng lượng mới và pin, động cơ và hệ thống điều khiển điện tử, đồng thời được sử dụng rộng rãi để kiểm tra pin lithium, siêu tụ điện, hiệu suất động cơ, v.v. Hệ thống thử nghiệm, với độ chính xác và tính linh hoạt tuyệt vời, có thể nhận ra đầu ra đường cong công suất trong vòng vài mili giây và mô phỏng pin điện theo điều kiện đường xá thực tế. Nó có các chức năng như điện áp không đổi, dòng điện không đổi, công suất không đổi, dòng điện không đổi đến điện áp không đổi, tải không đổi, bước dòng điện, đường dốc điện áp, dòng điện dốc, dòng xung và đầu ra đường cong dòng điện có thể được kết hợp tùy ý.
Ngoại trừ phạm vi nhiệt độ của buồng, phạm vi độ ẩm của buồng, Phân bố nhiệt độ và độ ẩm là yếu tố chính cần được xem xét. Những điều khác cần xem xét sẽ là tốc độ thay đổi nhiệt độ, sản phẩm trong buồng, cấu tạo và loại hệ thống làm mát (làm mát bằng không khí hoặc làm mát bằng nước) trong buồng. Những điều này sẽ giúp bạn xác định buồng tốt nhất cho ứng dụng của mình từ MENTEK.
Máy phân loại tế bào tự động NE18650CST-AM-09-A1
Tổng quan
Nó áp dụng cho việc phân loại 18650 tế bào hình trụ dựa trên điện áp và điện trở trong AC và hỗ trợ nhiều nhất 8 kênh sản phẩm tốt và 1 kênh sản phẩm bị lỗi. Hiệu quả phân loại được nâng cao và đảm bảo tiêu chuẩn hóa và độ tin cậy sản xuất bao bì. Nó áp dụng tải tự động, quét mã vạch ô (tùy chọn), kiểm tra và phân loại tự động, thu thập thủ công (hộp phân phối có thể được chọn để thu thập) và liên kết, lưu trữ cục bộ hoặc tải lên mã vạch và dữ liệu phân loại lên MES, do đó đảm bảo theo dõi và quản lý phân loại ô dòng gói.
Các ứng dụng: thử nghiệm các loại pin lithium-ion, niken-kim loại hydrua, niken-cadmium và axit-chì khác nhau bằng cách mô phỏng đoản mạch vô tình của pin trong quá trình làm việc và quan sát sự thay đổi của pin.
